Journal ArticleCalibration of the charge and energy loss per unit length of the MicroBooNE liquid argon time projection chamber using muons and protonsAdams, C.; Alrashed, M.; An, R.; Anthony, J.; Asaadi, J.; Ashkenazi, A.; Balasubramanian, S.; Baller, B.; Barnes, C.; Barr, G.; Basque, V.; Bass, M.; Bay, F.; Berkman, S.; Bhanderi, A.; Bhat, A.; Bishai, M.; Blake, A.; Bolton, T.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Terrazas, I. Caro; Carr, R.; Fernandez, R. Castillo; Cavanna, F.; Cerati, G.; Chen, Y.; Church, E.; Cianci, D.; Cohen, E.O.; Conrad, J.M.; Convery, M.; Cooper-Troendle, L.; Crespo-Anadón, J.I.; Tutto, M. Del; Devitt, D.; Diaz, A.; Domine, L.; Duffy, K.; Dytman, S.; Eberly, B.; Ereditato, A.; Sanchez, L. Escudero; Esquivel, J.; Evans, J.J.; Fitzpatrick, R.S.; Fleming, B.T.; Foppiani, N.; Franco, D.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Gardiner, S.; Genty, V.; Goeldi, D.; Gollapinni, S.; Goodwin, O.; Gramellini, E.; Green, P.; Greenlee, H.; Grosso, R.; Gu, L.; Gu, W.; Guenette, R.; Guzowski, P.; Hamilton, P.; Hen, O.; Hill, C.; Horton-Smith, G.A.; Hourlier, A.; Huang, E.-C.; Itay, R.; James, C.; de Vries, J. Jan; Ji, X.; Jiang, L.; Jo, J.H.; Johnson, R.A.; Joshi, J.; Jwa, Y.-J.; Karagiorgi, G.; Ketchum, W.; Kirby, B.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Kreslo, I.; Lepetic, I.; Li, Y.; Lister, A.; Littlejohn, B.R.; Lockwitz, S.; Lorca, D.; Louis, W.C.; Luethi, M.; Lundberg, B.; Luo, X.; Marchionni, A.; Marcocci, S.; Mariani, C.; Marshall, J.; Martin-Albo, J.; Caicedo, D.A. Martinez; Mason, K.; Mastbaum, A.; McConkey, N.; Meddage, V.; Mettler, T.; Miller, K.; Mills, J.; Mistry, K.; Mogan, A.; Mohayai, T.; Moon, J.; Mooney, M.; Moore, C.D.; Mousseau, J.; Murphy, M.; Murrells, R.; Naples, D.; Neely, R.K.; Nienaber, P.; Nowak, J.; Palamara, O.; Pandey, V.; Paolone, V.; Papadopoulou, A.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Paudel, A.; Pavlovic, Z.; Piasetzky, E.; Porzio, D.; Prince, S.; Pulliam, G.; Qian, X.; Raaf, J.L.; Rafique, A.; Ren, L.; Rochester, L.; Rogers, H.E.; Ross-Lonergan, M.; Rohr, C. Rudolf; Russell, B.; Scanavini, G.; Schmitz, D.W.; Schukraft, A.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sharankova, R.; Sinclair, J.; Smith, A.; Snider, E.L.; Soderberg, M.; Söldner-Rembold, S.; Soleti, S.R.; Spentzouris, P.; Spitz, J.; Stancari, M.; John, J. St.; Strauss, T.; Sutton, K.; Sword-Fehlberg, S.; Szelc, A.M.; Tagg, N.; Tang, W.; Terao, K.; Thornton, R.T.; Toups, M.; Tsai, Y.-T.; Tufanli, S.; Usher, T.; Pontseele, W. Van; de Water, R.G. Van; Viren, B.; Weber, M.; Wei, H.; Wickremasinghe, D.A.; Williams, Z.; Wolbers, S.; Wongjirad, T.; Woodruff, K.; Wospakrik, M.; Wu, W.; Yang, T.; Yarbrough, G.; Yates, L.E.; Zeller, G.P.; Zennamo, J.; Zhang, C.null2020-03-0110212049Journal of Instrumentation1503P03022 to P030221748-0221https://doi.org/10.1088/1748-0221/15/03/P030221801996; 2013070; 1707971National Science Foundation