Journal ArticleMeasurement of the atmospheric muon rate with the MicroBooNE Liquid Argon TPCAbratenko, P.; Alrashed, M.; An, R.; Anthony, J.; Asaadi, J.; Ashkenazi, A.; Balasubramanian, S.; Baller, B.; Barnes, C.; Barr, G.; Basque, V.; Bass, M.; Bathe-Peters, L.; Benevides Rodrigues, O.; Berkman, S.; Bhanderi, A.; Bhat, A.; Bishai, M.; Blake, A.; Bolton, T.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Caro Terrazas, I.; Castillo Fernandez, R.; Cavanna, F.; Cerati, G.; Chen, Y.; Church, E.; Cianci, D.; Conrad, J.M.; Convery, M.; Cooper-Troendle, L.; Crespo-Anadón, J.I.; Del Tutto, M.; Devitt, D.; Diurba, R.; Domine, L.; Dorrill, R.; Duffy, K.; Dytman, S.; Eberly, B.; Ereditato, A.; Escudero Sanchez, L.; Evans, J.J.; Fiorentini Aguirre, G.A.; Fitzpatrick, R.S.; Fleming, B.T.; Foppiani, N.; Franco, D.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Gardiner, S.; Ge, G.; Gollapinni, S.; Goodwin, O.; Gramellini, E.; Green, P.; Greenlee, H.; Gu, W.; Guenette, R.; Guzowski, P.; Hall, E.; Hamilton, P.; Hen, O.; Horton-Smith, G.A.; Hourlier, A.; Huang, E.-C.; Itay, R.; James, C.; Jan de Vries, J.; Ji, X.; Jiang, L.; Jo, J.H.; Johnson, R.A.; Jwa, Y.-J.; Kamp, N.; Karagiorgi, G.; Ketchum, W.; Kirby, B.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Kreslo, I.; LaZur, R.; Lepetic, I.; Li, K.; Li, Y.; Littlejohn, B.R.; Lorca, D.; Louis, W.C.; Luo, X.; Marchionni, A.; Marcocci, S.; Mariani, C.; Marsden, D.; Marshall, J.; Martin-Albo, J.; Martinez Caicedo, D.A.; Mason, K.; Mastbaum, A.; McConkey, N.; Meddage, V.; Mettler, T.; Miller, K.; Mills, J.; Mistry, K.; Mogan, A.; Mohayai, T.; Moon, J.; Mooney, M.; Moor, A.F.; Moore, C.D.; Mousseau, J.; Murphy, M.; Naples, D.; Navrer-Agasson, A.; K. Neely, R.; Nienaber, P.; Nowak, J.; Palamara, O.; Paolone, V.; Papadopoulou, A.; Papavassiliou, V.; F. Pate, S.; Paudel, A.; Pavlovic, Z.; Piasetzky, E.; Ponce-Pinto, I.D.; Porzio, D.; Prince, S.; Qian, X.; L. Raaf, J.; Radeka, V.; Rafique, A.; Reggiani-Guzzo, M.; Ren, L.; Rochester, L.; Rodriguez Rondon, J.; Rogers, H.E.; Rosenberg, M.; Ross-Lonergan, M.; Russell, B.; Scanavini, G.; W. Schmitz, D.; Schukraft, A.; H. Shaevitz, M.; Sharankova, R.; Sinclair, J.; Smith, A.; L. Snider, E.; Soderberg, M.; Söldner-Rembold, S.; Soleti, S.R.; Spentzouris, P.; Spitz, J.; Stancari, M.; St. John, J.; Strauss, T.; Sutton, K.; Sword-Fehlberg, S.; Szelc, A.M.; Tagg, N.; Tang, W.; Terao, K.; Thorpe, C.; Toups, M.; Tsai, Y.-T.; Tufanli, S.; Uchida, M.A.; Usher, T.; Van De Pontseele, W.; Viren, B.; Weber, M.; Wei, H.; Williams, Z.; Wolbers, S.; Wongjirad, T.; Wospakrik, M.; Wu, W.; Yang, T.; Yarbrough, G.; Yates, L.E.; Zeller, G.P.; Zennamo, J.; Zhang, C.null2021-04-0110223499Journal of Instrumentation1604P040041748-0221https://doi.org/10.1088/1748-0221/16/04/P040041801996National Science Foundation