Aprile, E., Aalbers, J., Agostini, F., Alfonsi, M., Althueser, L., Amaro, F. D., Antochi, V. C., Angelino, E., Angevaare, J. R., Arneodo, F., Barge, D., Baudis, L., Bauermeister, B., Bellagamba, L., Benabderrahmane, M. L., Berger, T., Brown, A., Brown, E., Bruenner, S., Bruno, G., Budnik, R., Capelli, C., Cardoso, J. M. R., Cichon, D., Cimmino, B., Clark, M., Coderre, D., Colijn, A. P., Conrad, J., Cussonneau, J. P., Decowski, M. P., Depoian, A., Di Gangi, P., Di Giovanni, A., Di Stefano, R., Diglio, S., Elykov, A., Eurin, G., Ferella, A. D., Fulgione, W., Gaemers, P., Gaior, R., Galloway, M., Gao, F., Grandi, L., Hasterok, C., Hils, C., Hiraide, K., Hoetzsch, L., Howlett, J., Iacovacci, M., Itow, Y., Joerg, F., Kato, N., Kazama, S., Kobayashi, M., Koltman, G., Kopec, A., Landsman, H., Lang, R. F., Levinson, L., Lin, Q., Lindemann, S., Lindner, M., Lombardi, F., Long, J., Lopes, J. A. M., López Fune, E., Macolino, C., Mahlstedt, J., Mancuso, A., Manenti, L., Manfredini, A., Marignetti, F., Marrodán Undagoitia, T., Martens, K., Masbou, J., Masson, D., Mastroianni, S., Messina, M., Miuchi, K., Mizukoshi, K., Molinario, A., Morå, K., Moriyama, S., Mosbacher, Y., Murra, M., Naganoma, J., Ni, K., Oberlack, U., Odgers, K., Palacio, J., Pelssers, B., Peres, R., Pienaar, J., Pizzella, V., Plante, G., Qin, J., Qiu, H., Ramírez García, D., Reichard, S., Rocchetti, A., Rupp, N., dos Santos, J. M. F., Sartorelli, G., Šarčević, N., Scheibelhut, M., Schreiner, J., Schulte, D., Schumann, M., Scotto Lavina, L., Selvi, M., Semeria, F., Shagin, P., Shockley, E., Silva, M., Simgen, H., Takeda, A., Therreau, C., Thers, D., Toschi, F., Trinchero, G., Tunnell, C., Vargas, M., Volta, G., Wang, H., Wei, Y., Weinheimer, C., Weiss, M., Wenz, D., Wittweg, C., Xu, Z., Yamashita, M., Ye, J., Zavattini, G., Zhang, Y., Zhu, T., Zopounidis, J. P., and Mougeot, X. Excess electronic recoil events in XENON1T. Retrieved from https://par.nsf.gov/biblio/10225817. Physical Review D 102.7 Web. doi:10.1103/PhysRevD.102.072004.

Aprile, E., Aalbers, J., Agostini, F., Alfonsi, M., Althueser, L., Amaro, F. D., Antochi, V. C., Angelino, E., Angevaare, J. R., Arneodo, F., Barge, D., Baudis, L., Bauermeister, B., Bellagamba, L., Benabderrahmane, M. L., Berger, T., Brown, A., Brown, E., Bruenner, S., Bruno, G., Budnik, R., Capelli, C., Cardoso, J. M. R., Cichon, D., Cimmino, B., Clark, M., Coderre, D., Colijn, A. P., Conrad, J., Cussonneau, J. P., Decowski, M. P., Depoian, A., Di Gangi, P., Di Giovanni, A., Di Stefano, R., Diglio, S., Elykov, A., Eurin, G., Ferella, A. D., Fulgione, W., Gaemers, P., Gaior, R., Galloway, M., Gao, F., Grandi, L., Hasterok, C., Hils, C., Hiraide, K., Hoetzsch, L., Howlett, J., Iacovacci, M., Itow, Y., Joerg, F., Kato, N., Kazama, S., Kobayashi, M., Koltman, G., Kopec, A., Landsman, H., Lang, R. F., Levinson, L., Lin, Q., Lindemann, S., Lindner, M., Lombardi, F., Long, J., Lopes, J. A. M., López Fune, E., Macolino, C., Mahlstedt, J., Mancuso, A., Manenti, L., Manfredini, A., Marignetti, F., Marrodán Undagoitia, T., Martens, K., Masbou, J., Masson, D., Mastroianni, S., Messina, M., Miuchi, K., Mizukoshi, K., Molinario, A., Morå, K., Moriyama, S., Mosbacher, Y., Murra, M., Naganoma, J., Ni, K., Oberlack, U., Odgers, K., Palacio, J., Pelssers, B., Peres, R., Pienaar, J., Pizzella, V., Plante, G., Qin, J., Qiu, H., Ramírez García, D., Reichard, S., Rocchetti, A., Rupp, N., dos Santos, J. M. F., Sartorelli, G., Šarčević, N., Scheibelhut, M., Schreiner, J., Schulte, D., Schumann, M., Scotto Lavina, L., Selvi, M., Semeria, F., Shagin, P., Shockley, E., Silva, M., Simgen, H., Takeda, A., Therreau, C., Thers, D., Toschi, F., Trinchero, G., Tunnell, C., Vargas, M., Volta, G., Wang, H., Wei, Y., Weinheimer, C., Weiss, M., Wenz, D., Wittweg, C., Xu, Z., Yamashita, M., Ye, J., Zavattini, G., Zhang, Y., Zhu, T., Zopounidis, J. P., & Mougeot, X. Excess electronic recoil events in XENON1T. Physical Review D, 102 (7). Retrieved from https://par.nsf.gov/biblio/10225817. https://doi.org/10.1103/PhysRevD.102.072004

Aprile, E., Aalbers, J., Agostini, F., Alfonsi, M., Althueser, L., Amaro, F. D., Antochi, V. C., Angelino, E., Angevaare, J. R., Arneodo, F., Barge, D., Baudis, L., Bauermeister, B., Bellagamba, L., Benabderrahmane, M. L., Berger, T., Brown, A., Brown, E., Bruenner, S., Bruno, G., Budnik, R., Capelli, C., Cardoso, J. M. R., Cichon, D., Cimmino, B., Clark, M., Coderre, D., Colijn, A. P., Conrad, J., Cussonneau, J. P., Decowski, M. P., Depoian, A., Di Gangi, P., Di Giovanni, A., Di Stefano, R., Diglio, S., Elykov, A., Eurin, G., Ferella, A. D., Fulgione, W., Gaemers, P., Gaior, R., Galloway, M., Gao, F., Grandi, L., Hasterok, C., Hils, C., Hiraide, K., Hoetzsch, L., Howlett, J., Iacovacci, M., Itow, Y., Joerg, F., Kato, N., Kazama, S., Kobayashi, M., Koltman, G., Kopec, A., Landsman, H., Lang, R. F., Levinson, L., Lin, Q., Lindemann, S., Lindner, M., Lombardi, F., Long, J., Lopes, J. A. M., López Fune, E., Macolino, C., Mahlstedt, J., Mancuso, A., Manenti, L., Manfredini, A., Marignetti, F., Marrodán Undagoitia, T., Martens, K., Masbou, J., Masson, D., Mastroianni, S., Messina, M., Miuchi, K., Mizukoshi, K., Molinario, A., Morå, K., Moriyama, S., Mosbacher, Y., Murra, M., Naganoma, J., Ni, K., Oberlack, U., Odgers, K., Palacio, J., Pelssers, B., Peres, R., Pienaar, J., Pizzella, V., Plante, G., Qin, J., Qiu, H., Ramírez García, D., Reichard, S., Rocchetti, A., Rupp, N., dos Santos, J. M. F., Sartorelli, G., Šarčević, N., Scheibelhut, M., Schreiner, J., Schulte, D., Schumann, M., Scotto Lavina, L., Selvi, M., Semeria, F., Shagin, P., Shockley, E., Silva, M., Simgen, H., Takeda, A., Therreau, C., Thers, D., Toschi, F., Trinchero, G., Tunnell, C., Vargas, M., Volta, G., Wang, H., Wei, Y., Weinheimer, C., Weiss, M., Wenz, D., Wittweg, C., Xu, Z., Yamashita, M., Ye, J., Zavattini, G., Zhang, Y., Zhu, T., Zopounidis, J. P., and Mougeot, X. "Excess electronic recoil events in XENON1T". Physical Review D 102 (7). Country unknown/Code not available. https://doi.org/10.1103/PhysRevD.102.072004. https://par.nsf.gov/biblio/10225817.

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